Technologien

Ethernet

• Ethernet-Übersicht
• Ethernet-Generationen, Lane-Raten und elektrische Schnittstellen
• Optische Ethernet-Schnittstellen
• Optische PMDs nach Rate: Referenz
• FEC, Autonegotiation und Link-Training
• Kupfer-Ethernet und DAC in SFP/QSFP-Ports
• Breakout und MPO-Verkabelung: Polarität, Base-8/12/16, Pinbelegung

PON

• PON-Übersicht
• PON-Standards
• Wie ein PON funktioniert: TDM, Ranging, DBA, Aktivierung, OMCI
• PON-Wellenlängenpläne und Koexistenz
• PON-Transceiver: OLT und ONU
• ODN-Klassen und das Leistungsbudget von PON

Fibre Channel

• Fibre-Channel-Übersicht
• Fibre-Channel-Geschwindigkeiten
• Grundlagen des FC-Protokolls: Schichten, Ports, Logins, Zoning
• FC-Transceiver und Optik
• SAN-Fabrics und Entfernung
• FC-Portdiagnose: Zähler, Slow Drain, SFP-Prüfung

InfiniBand

• InfiniBand-Übersicht
• InfiniBand-Geschwindigkeiten
• IB-Protokoll und Transport: Schichten, QPs, RDMA, Subnet-Manager
• InfiniBand-Optik und Kabel
• IB-Verkabelung nach Generation: DAC, AOC, Transceiver, Split-Kabel
• Grundlagen der InfiniBand-Fabric

CWDM

• CWDM-Übersicht
• CWDM-Kanalraster
• CWDM-Mux/Demux und Leistungsbudget
• CWDM-Transceiver: Typen, Reichweite und Kodierung
• CWDM-Einsatz und Fehlerbehebung
• Einfaser-CWDM, OADMs und Bandsplitter
• CWDM im Access und mobilen Fronthaul: CPRI/eCPRI, MWDM, LWDM

DWDM

• DWDM-Übersicht
• DWDM und das ITU-Raster
• Komponenten eines DWDM-Systems
• Verstärkung, OSNR und die Grenzen einer DWDM-Strecke
• Durchstimmbare DWDM-Transceiver
• Kohärente Optik und Long-Haul-Design
• DWDM-Netzdesign: Liniensysteme, ROADMs, OTN, Pluggables

Speichersysteme

• Übersicht Storage-Netzwerke
• Storage-Protokolle und Optik
• NVMe over Fabrics: FC-NVMe, NVMe/TCP, NVMe/RoCE und ihre Optik
• Lossless Ethernet für Storage: DCB, PFC, ECN
• Transceiver in Storage-Netzwerken

Künstliche Intelligenz

• Übersicht KI-Netzwerke
• KI-Interconnects und Optik
• Transceiver in KI-Clustern
• Topologien von GPU-Fabrics
• Verkabelung eines KI-Clusters: Anzahl, Entfernungen, Medium, Abnahme
• Link-Zuverlässigkeit und Überwachung in KI-Fabrics